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鍍膜儀怎樣結合石英膜厚檢測來實現參數化鍍膜?

更新時間:2025-10-16  |  訪問量:22
  在真空鍍膜領域,想把“納米級”厚度寫進工藝卡,靠的早已不是老師傅的手感,而是一顆“石英晶振片”實時的頻率。把這臺“電子耳”與鍍膜儀聯成閉環,就構成了今天主流的“參數化鍍膜”系統。下面就來詳細看看:
  石英具有壓電效應——給它電壓,它就以天然頻率振動。若在表面沉積一層外來原子,質量增加,振動頻率就會下降,且頻率漂移量Δf與質量(即膜厚)呈線性關系。把這片石英做成直徑幾毫米的小圓片,裝在真空室側壁,讓蒸鍍材料同時落在晶振片和樣品上,就能用晶振片的“產物”實時代表樣品表面的厚度。
  常用Sauerbrey方程把頻率翻譯成質量面密度:
  Δm=−C·Δf
  其中:C是與石英本身有關的常數。再把Δm除以膜材料密度,就得到厚度d。現代晶控儀每秒鐘采樣幾十次,所以屏幕上看到的“厚度曲線”幾乎與蒸發同步爬升。
  僅有“測”還不夠,關鍵是“控”。晶控儀內部有一枚PID調節器,把“設定速率”與“實測速率”不斷比較,輸出加熱功率修正值:
  P(比例):差得大,立刻加大功率;
  I(積分):差得久,慢慢補回來;
  D(微分):差得快,提前剎車。
  當速率穩定在設定值后,系統切換成“厚度模式”,累積到目標厚度即刻關閉擋板,一層膜結束。全過程無需人工干預,重復性誤差可做到<1%。
  當晶振片溫度升高時,自身頻率也會升高,容易把“假瘦”當成“真瘦”。新機型會在蒸停后延遲幾秒采樣,或利用雙片差分,把溫度帶來的頻率漂移減掉,從而把厚度誤差再砍掉一半。
  當每一層都能有精確厚度后,工藝工程師就可以把“層數-材料-速率-厚度”全部錄入配方。下次換靶、換坩堝,系統會自動根據晶體反饋重新標定,真正做到“人走工藝不走”。多靶共蒸、梯度膜、超薄膜這些過去靠運氣的難題,如今只需在軟件里改幾個數字。
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